HEIDENHAIN 位置量測系統

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密封式光學尺

直線量測-位置編碼器
密封式光學尺

密封式光學尺具有鋁質外殼和密封軟條可以保護光學尺、掃描單元和軌道免受灰塵、切屑和切削液的影響，能夠有效防塵、防切屑和防飛濺的切削液，是用於各種機械床台的理想選擇。

  • LIC系列光學尺具有絕對式訊號，定位精度為 ±0.08μ
  • LIP系列光學尺主要應用於超高精度之量測，定位精度為 ±0.02μ~ ±0.001μ
  • LIF系列光學尺主要應用於高精度之量測，定位精度為 ±0.04μ
  • LIDA系列光學尺為一般應用之量測，定位精度為 ±0.2μ~ ±2μ
直線量測-位置編碼器
角度量測-位置編碼器
量測位置擷取與顯示